$Instrumento ng Eksperimento sa Interference at Diffraction ng LCP-21 (Kinokontrol ng Computer) Tampok na Larawan$

$Instrumento ng Eksperimento sa Interference at Diffraction ng LCP-21 (Kinokontrol ng Computer)$
$Instrumento ng Eksperimento sa Interference at Diffraction ng LCP-21 (Kinokontrol ng Computer)$

Instrumento ng Eksperimento sa Interference at Diffraction ng LCP-21 (Kinokontrol ng Computer)

Maikling Paglalarawan:

Hindi kailangan ng darkroom
May mga mas masusukat na pigura na magagamit tulad ng dual-slit, multi-slit at single silk.
Bukod sa eksperimento sa interference at diffraction, maaari rin itong gamitin para sa pagtanggap ng intensity ng liwanag sa iba pang mga lugar.

Magpadala ng email sa amin

Detalye ng Produkto

Mga Tag ng Produkto

Gamit ang advanced CCD linear photoelectric sensor, na may 11μm o 14μm spatial resolution at libu-libong pixel, maliit ang experimental error; ang diffraction light intensity curve ay nakokolekta sa real time sa isang iglap, at maaaring patuloy na kolektahin at iproseso nang dynamic; ang ratio ng nakolektang light intensity distribution curve. Ang tradisyonal na light at dark stripes ay may mas pisikal na konotasyon, at ang mga graphics ay mas pino at mayaman; hindi kinakailangan ang manu-manong pagproseso tulad ng pag-splice ng mga nakolektang curve, at naiiwasan ang mga error at distortion. Ang digital photoelectric galvanometer ay ginagamit upang sukatin ang punto por punto, at mayaman ang praktikal na nilalaman.

Ang software sa pagproseso ng datos ay makapangyarihan, may 12-bit na A/D quantization, 1/4096 amplitude resolution, maliit na experimental error, digital display, at tumpak na pagsukat ng spatial na posisyon ng bawat photosensitive element at ang light voltage value nito gamit ang USB interface.

Mga detalye

Optical Rail		haba: 1.0 m
Laser na Semikonduktor		3.0 mW @650 nm
Elemento ng Dipraksyon	Isang Hiwa	lapad ng hiwa: 0.07 mm, 0.10 mm, at 0.12 mm
	Single-Wire	diyametro: 0.10 mm at 0.12 mm
	Dobleng Hiwa	lapad ng hiwa 0.02 mm, gitnang pagitan 0.04 mm
	Dobleng Hiwa	lapad ng hiwa 0.07 mm, gitnang pagitan 0.14 mm
	Dobleng Hiwa	lapad ng hiwa 0.07 mm, gitnang pagitan 0.21 mm
	Dobleng Hiwa	lapad ng hiwa 0.07 mm, gitnang pagitan 0.28 mm
	Triple-Slit	lapad ng hiwa 0.02 mm, gitnang pagitan 0.04 mm
	Quadruple-Slit	lapad ng hiwa 0.02 mm, gitnang pagitan 0.04 mm
	Pentuple-Slit	lapad ng hiwa 0.02 mm, gitnang pagitan 0.04 mm
Detektor ng Photocell (Opsyon 1)		kasama ang 0.1 mm reading ruler at amplifier, na nakakonekta sa isang galvanometer
CCD (Opsyon 2)		kasama ang 0.1 mm reading ruler at amplifier, na nakakonekta sa isang galvanometer
CCD (Opsyon 2)		may mga synchronization/signal port, na nakakonekta sa isang oscilloscope
CCD+Software (Opsyon 3)		kasama ang Opsyon 2
CCD+Software (Opsyon 3)		kahon ng pagkuha ng datos at software para sa paggamit ng PC sa pamamagitan ng USB