LCP-25 Pang-eksperimentong Ellipsometer
Panimula
Ang manu-manong elliptical polarimeter ay gumagamit ng paraan ng pagkalipol upang masukat ang kapal at repraktibo na indeks ng pelikula, at manu-manong kinokontrol ang paglihis at paglihis ng anggulo ng proseso ng pagsubok. Malawakang ginagamit ang Ellipsometry sa pagsukat ng dielectric manipis na pelikula sa solidong substrate. Sa pamamaraan ng pagsukat ng kapal ng pelikula, masusukat ito sa pinakamayat at pinakamataas na katumpakan.
Mga pagtutukoy
| Paglalarawan | Mga pagtutukoy |
| Saklaw ng Sukat ng Pagsukat | 1 nm ~ 300 nm |
| Saklaw ng Angulo ng Insidente | 30º ~ 90º, Error ≤ 0.1º |
| Angle ng Polarizer & Analyzer Intersection | 0º ~ 180º |
| Disk Angular Scale | 2º bawat sukat |
| Min. Pagbasa ni Vernier | 0.05º |
| Taas ng Optical Center | 152 mm |
| Diameter ng Trabaho ng Trabaho | Φ 50 mm |
| Pangkalahatang Dimensyon | 730x230x290 mm |
| Bigat | Tinatayang 20 kg |
Listahan ng Bahagi
| Paglalarawan | Qty |
| Yunit ng Ellipsometer | 1 |
| He-Ne Laser | 1 |
| Photoelectric Amplifier | 1 |
| Photo Cell | 1 |
| Silica Film sa Silicon Substrate | 1 |
| Pagsusuri ng Software CD | 1 |
| Manwal ng Tagubilin | 1 |
Isulat ang iyong mensahe dito at ipadala ito sa amin
