LEEM-3 Electric Field Mapping Apparatus

Maikling Paglalarawan:

Sa teknolohiyang inhinyero, madalas na kailangang malaman ang pamamahagi ng electric field ng sistema ng elektrod upang mapag-aralan ang batas ng paggalaw ng mga electron o mga sisingilin na particle sa electric field.Halimbawa, upang pag-aralan ang pagtutok at pagpapalihis ng electron beam sa oscilloscope tube, kailangang malaman ang distribution ng electric field ng electrode sa oscilloscope tube.Sa electron tube, kailangan nating pag-aralan ang impluwensya ng pagpapakilala ng mga bagong electrodes sa paggalaw ng mga electron, at kailangan din nating malaman ang pamamahagi ng electric field.Sa pangkalahatan, upang malaman ang distribusyon ng electric field, maaaring gamitin ang analytical method at simulation experiment method.Ngunit sa ilang mga simpleng kaso lamang ay maaaring makuha ang pamamahagi ng electric field sa pamamagitan ng analytical method.Para sa pangkalahatan o kumplikadong sistema ng elektrod, karaniwan itong tinutukoy ng simulation experiment.Ang kawalan ng pamamaraan ng simulation experiment ay ang katumpakan ay hindi mataas, ngunit para sa pangkalahatang disenyo ng engineering, maaari itong matugunan ang mga kinakailangan.